Film Thickness Example

薄膜/涂层的厚度

AEP 三维轮廓仪配备了先进的参数和简单的使用程序测量薄膜厚度。

以下是一些技术上选择模式的建议

光学三维轮廓仪 NanoMap-WLI

可以测量大于 5 micron透明薄膜厚度.

欲了解产品信息请点击这里。

接触式三维轮廓仪 NanoMap-LS

在覆盖了复层和未覆盖复层的交界处测量台阶高度来表征薄膜厚度。
既可以测量透明的也可以测量不透明的薄膜厚度。
测量范围最大可达1mm.

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接触式+光学三维轮廓仪NanoMap-D

双模式的 NanoMap-D 兼备了接触式及光学模式于一身。
它可以测试任何样品上的薄膜厚度。

欲了解产品信息请点击这里。.